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突破110GHz帶寬極限!中科院微系統(tǒng)所TFLN-SiN異質(zhì)集成鍵合工藝最新進展與應用前景

2025-07-03



在高速光通信與硅基光電子集成領域,薄膜鈮酸鋰(TFLN)因其優(yōu)異的電光特性被視為實現(xiàn)超高帶寬、低功耗光器件的關鍵材料。如何將TFLN與傳統(tǒng)硅光平臺(如氮化硅SiN)高效集成,成為當前研發(fā)熱點。中科院上海微系統(tǒng)與信息技術研究所(以下簡稱“微系統(tǒng)所”)在TFLN-SiN鍵合工藝領域取得顯著突破,成功研制出帶寬超過110GHz的高性能光調(diào)制器。本文將詳細介紹這一創(chuàng)新的異質(zhì)集成鍵合工藝及其卓越性能,展望其在下一代高速光通信與光互連技術中的應用潛力。



一、 技術路線:TFLN-SiN異質(zhì)集成 vs. 混合集成

當前主要的TFLN-SiN集成方案可分為兩類:


1. 混合集成(如九峰山、海思等方案):

·         對氮化硅(SiN)和鈮酸鋰薄膜(TFLN)均進行刻蝕。

·         二者各自形成獨立的波導結構。

·         通過倏逝波耦合實現(xiàn)光場連接。工藝相對復雜。


2. 微系統(tǒng)所方案:異質(zhì)集成鍵合(核心創(chuàng)新)

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【微系統(tǒng)所TFLN-SiN異質(zhì)集成波導結構示意圖】

·         核心特點: 采用獨特的鍵合工藝,在完成SiN波導制作并平坦化后,直接鍵合整片TFLN薄膜層。最終形成的波導是SiN和TFLN共同構成的異質(zhì)結構。

·         優(yōu)勢: 工藝步驟相對簡化(免去TFLN刻蝕),可能帶來更優(yōu)的光場限制和耦合效率。




二、 微系統(tǒng)所TFLN-SiN鍵合工藝詳解

該工藝在標準硅光工藝平臺上擴展,關鍵步驟及參數(shù)如下:


1. 基底準備:

·         使用硅襯底,通過熱氧化形成二氧化硅(BOX)層,構成SOI襯底。

·         采用PECVD方法沉積氮化硅(SiN)層。文獻報道其厚度有180nm或400nm版本,此處以公開論文的180nm為例。


2. SiN波導制作與平坦化(關鍵步驟):

·         對SiN層進行光刻和刻蝕,形成所需的SiN波導圖形。

·         在刻蝕后的SiN波導上覆蓋氧化硅層

·         關鍵工藝: 對覆蓋的氧化硅層進行精密平坦化(研磨)。這一步的平整度至關重要,直接決定了后續(xù)鍵合時TFLN層與SiN波導之間的間隙厚度和均勻性。晶正電子轉讓給華為的專利也旨在精確控制此間隙。

·         平整后的氧化硅層表面將作為與TFLN鍵合的界面。

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[圖示2:SiN波導刻蝕后狀態(tài)示意圖]


3. TFLN薄膜轉移與鍵合:

·         將高品質(zhì)的薄膜鈮酸鋰(TFLN)晶圓(通常為供貨態(tài))與完成平坦化的SiN晶圓進行鍵合。

·         鍵合層材料: 微系統(tǒng)所選用氧化硅作為鍵合介質(zhì)。相比另一種常用材料BCB(苯并環(huán)丁烯,高分子聚合物膠):

·         氧化硅優(yōu)勢: 耐高溫、長期可靠性高(尤其適用于商用產(chǎn)品)、工藝兼容性好。

·         BCB劣勢: 可靠性較差(老化、熱穩(wěn)定性等問題)。

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4. TFLN薄膜剝離與后道工藝:

·         關鍵技術:“離子刀”剝離。

·         使用氦離子(He+)注入到供體鈮酸鋰晶圓中(在鍵合界面下方特定深度形成損傷層)。

加熱處理,使損傷層汽化,從而實現(xiàn)鈮酸鋰薄膜(目標厚度約400nm)的剝離,最終在鍵合晶圓上獲得所需的TFLN薄膜層。剩余供體晶圓可重復使用。

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·         器件完成:

·         沉積上包層(通常為氧化硅)保護波導。

·         沉積金屬層(用于調(diào)制電極等),并進行圖形化。

·         電極材料選擇: 金(性能最佳,成本高)、銅(折中)、鋁(成本低,易刻蝕,電阻率等電學性能相對較差)。

·         微系統(tǒng)所選擇: 基于成本和工藝集成度考慮,采用硅光平臺標準的鋁(Al)工藝制作調(diào)制電極。

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三、突破性性能:110GHz帶寬與低VπL

微系統(tǒng)所基于此TFLN-SiN異質(zhì)集成鍵合工藝制作的光調(diào)制器取得了令人矚目的性能:

  • 調(diào)制器長度: 5mm

  • 帶寬: > 110GHz (實測超過110GHz)

  • 半波電壓(Vπ)與VπL積(關鍵效率指標):

    • O波段: Vπ = 4.3V, VπL = 2.15 V·cm (極低,優(yōu)于傳統(tǒng)方案)

    • C波段: Vπ = 5.5V, VπL = 2.75 V·cm (同樣表現(xiàn)出色)

  • 傳輸性能:

    • 成功演示了260 Gbps PAM4 信號調(diào)制。

    • 展現(xiàn)了180 GBd(千兆波特) 級的超高符號率傳輸能力,展現(xiàn)了其在超高速通信中的巨大潛力。


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中科院微系統(tǒng)所開發(fā)的TFLN-SiN異質(zhì)集成鍵合工藝代表了硅基光電子集成技術的重要突破。

其特點在于:

1. 創(chuàng)新結構: 采用氧化硅鍵合/平坦化層的異質(zhì)集成方案,簡化工藝并提升可靠性。

2. 核心工藝成熟: 掌握了SiN波導精密平坦化和大面積高質(zhì)量TFLN鍵合與剝離等關鍵技術。

3. 卓越性能: 實現(xiàn)了超過110GHz的帶寬低至2.15 V·cm (O波段)的VπL積,滿足下一代800G、1.6T及更高速光互聯(lián)對調(diào)制器核心性能的苛刻要求。

4. 兼容性與可靠性: 基于硅光平臺開發(fā),采用耐高溫的氧化硅鍵合材料,具有商業(yè)化應用潛力。


應用前景: 這項技術不僅為研制超高速、低功耗的下一代光通信核心器件(如相干光模塊中的IQ調(diào)制器)提供了強大支撐,其展現(xiàn)的高性能光波導操控能力,也為未來高速光開關、可編程光子集成電路(PIC) 等更復雜光子器件的發(fā)展開辟了新路徑。

廣西科毅光通信科技有限公司 (www.www.racimosdehumanidad.com) 作為專注于光通信器件研發(fā)與制造的企業(yè),將持續(xù)關注此類前沿集成工藝的發(fā)展,致力于將最先進的技術轉化為滿足市場需求的高性能光開關、光模塊等產(chǎn)品,賦能數(shù)據(jù)中心、5G/6G及未來光網(wǎng)絡建設。