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光開關(guān)集成度提升技術(shù)白皮書

2025-08-20

 

前言:光電子產(chǎn)業(yè)的集成化革命

 

在光通信技術(shù)飛速發(fā)展的今天,光開關(guān)作為核心器件正經(jīng)歷著與半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)相似的"集成化革命"。本白皮書系統(tǒng)梳理光開關(guān)集成度提升的技術(shù)路徑、行業(yè)標準與實踐案例,為光通信設(shè)備制造商、數(shù)據(jù)中心運營商及科研機構(gòu)提供權(quán)威技術(shù)參考。

 

廣西科毅光通信科技有限公司作為國家高新技術(shù)企業(yè),深耕光開關(guān)領(lǐng)域15年,累計申請專利52項,其中"一種基于Bene?架構(gòu)的高密度光開關(guān)矩陣"(專利號ZL202220756368.0)實現(xiàn)集成度從32通道到64通道的突破,驗證了"光子芯片摩爾定律"的可行性。本白皮書將結(jié)合科毅實踐經(jīng)驗,詳解集成度提升的關(guān)鍵技術(shù)與工程挑戰(zhàn)。

 

一、技術(shù)標準與測試方法

 

1.1 行業(yè)標準體系

光開關(guān)集成度測試主要遵循以下標準:

? YD/T 1689-2007《機械式光開關(guān)技術(shù)要求和測試方法》:規(guī)定插入損耗(≤0.5dB)、回波損耗(≥50dB)等關(guān)鍵指標

? GB/T 12511-1990《纖維光學(xué)開關(guān) 第一部分:總規(guī)范》:定義通道串擾(≤-60dB)、重復(fù)性(≤±0.1dB)測試流程

? Telcordia GR-1073-CORE:提出長期可靠性驗證方法,包括1000次高低溫循環(huán)(-40℃~+85℃)測試

 

1.2 集成度測試關(guān)鍵指標

指標

定義

測試方法

科毅64通道產(chǎn)品指標

通道密度

單位面積集成的通道數(shù)(通道/cm2)

光學(xué)顯微鏡圖像分析

48通道/cm2

插入損耗均勻性

各通道插入損耗最大值與最小值之差

可調(diào)諧激光源掃描(1525-1625nm)

≤0.3dB

串擾

非目標通道光功率與輸入功率比

光譜分析儀測量

≤-55dB

開關(guān)時間一致性

100次切換的標準差

高速示波器(20GHz帶寬)

σ≤2%

 

集成度技術(shù)路線圖

集成度技術(shù)路線圖



1.3 測試系統(tǒng)搭建

科毅光開關(guān)測試平臺包含:

? 光源模塊:Agilent 8164B可調(diào)諧激光源(1525-1625nm,功率穩(wěn)定性±0.01dB/h)

? 檢測模塊:Keysight N9030A頻譜分析儀(動態(tài)范圍>80dB)

? 控制模塊:NI PXIe-6368數(shù)據(jù)采集卡(采樣率1MS/s)

? 環(huán)境艙:ESPEC SH-241恒溫恒濕箱(溫度范圍-70℃~+150℃)

 


二、材料選型與性能對比

 

2.1 主流材料體系特性

材料體系

介電常數(shù)

熱光系數(shù)(1/℃)

光學(xué)損耗(dB/cm)

工藝兼容性

硅(Si)

11.7

1.8×10??

0.5-2

CMOS兼容

氮化硅(SiN)

7.5

2.4×10??

0.1-0.3

需專用工藝

鈮酸鋰(LN)

28

9×10??

0.2-0.5

異質(zhì)集成

磷化銦(InP)

12.5

8.5×10??

1-3

III-V工藝

 

光開關(guān)材料性能對比

光開關(guān)材料性能對比


2.2 科毅異質(zhì)集成技術(shù)突破

科毅研發(fā)的SiN-LN異質(zhì)集成平臺通過以下創(chuàng)新實現(xiàn)性能躍升:

1. 等離子體活化鍵合:300nm LN薄膜與SiN襯底鍵合強度>20MPa

2. 混合波導(dǎo)設(shè)計:SiN條形波導(dǎo)(2μm寬)與LN覆蓋層形成模式限制因子達80%

3. 高溫退火優(yōu)化:1050℃氮氣氛圍退火使波導(dǎo)表面粗糙度降至1.5nm RMS

 

測試數(shù)據(jù)表明,該平臺實現(xiàn):

? 插入損耗:3.8dB(@1550nm)

? 電光帶寬:110GHz

? 工作溫度范圍:-40℃~+85℃

 

自動化測試流程

自動化測試流程

三、設(shè)計優(yōu)化與工藝創(chuàng)新

 

3.1 架構(gòu)設(shè)計演進

從2×2基本單元到64×64矩陣的架構(gòu)優(yōu)化:

 

架構(gòu)類型

通道數(shù)

串擾(dB)

功耗(mW/通道)

尺寸(mm2)

MZI干涉儀

2×2

≤-30

5

0.5×0.5

微環(huán)諧振器

4×4

≤-25

2

1×1

Benes網(wǎng)絡(luò)

16×16

≤-40

1.5

5×5

改進型Benes

64×64

≤-55

0.5

10×10

 

3.2 關(guān)鍵工藝突破

1. 深層反應(yīng)離子刻蝕(DRIE)

? 刻蝕深度:3-5μm

? 側(cè)壁垂直度:90°±0.5°

? 選擇比:Si:SiO?=50:1

 

2. 金屬化工藝:

? 電極材料:Ti/Au(厚度50/500nm)

? 接觸電阻:<10??Ω·cm

? 臺階覆蓋:>90%

 

3. 封裝技術(shù):

? 光纖陣列耦合損耗:<0.5dB

? 溫度循環(huán)穩(wěn)定性:1000次循環(huán)后插損變化<0.3dB

? 可靠性:MTBF>10?小時

 


四、應(yīng)用場景與解決方案

 

4.1 數(shù)據(jù)中心互聯(lián)

挑戰(zhàn):傳統(tǒng)電交換機面臨帶寬瓶頸,功耗高達15kW/機架

解決方案64×64光開關(guān)矩陣實現(xiàn):

? 光層靈活調(diào)度,重構(gòu)時間<20ms

? 降低功耗70%,單機架年省電12.4萬度

? 案例:越南海防數(shù)據(jù)中心采用后,端口利用率從60%提升至92%

 

4.2 5G承載網(wǎng)

挑戰(zhàn):前傳網(wǎng)絡(luò)光纖資源緊張,基站部署成本高

解決方案1×8光開關(guān)遠程調(diào)度:

? 支持1:8分光,節(jié)省75%光纖資源

? 適應(yīng)-40℃~+70℃戶外環(huán)境

? 已應(yīng)用于中國移動廣西南寧5G試驗網(wǎng)

 

4.3 航天航空

挑戰(zhàn):空間輻射環(huán)境導(dǎo)致器件性能退化

解決方案:抗輻射加固設(shè)計:

? 總劑量輻射:100krad(Si)

? 單粒子翻轉(zhuǎn)閾值:>80MeV·cm2/mg

? 應(yīng)用:低軌衛(wèi)星星座激光通信終端

 

五、常見問題解答

 

Q1: 如何平衡集成度與插入損耗?

A:采用多層異質(zhì)集成架構(gòu),將有源器件與無源器件分離集成??埔?4通道產(chǎn)品通過SiN-LN混合波導(dǎo),實現(xiàn)集成度提升的同時保持插入損耗<4dB。

 

Q2: 高溫環(huán)境對集成度有何影響?

A:溫度每升高10℃,Si基光開關(guān)串擾惡化3dB。解決方案包括:

? 采用LN材料(熱光系數(shù)僅為Si的1/20)

? 集成微型TEC制冷(控溫精度±0.1℃)

? 設(shè)計熱隔離結(jié)構(gòu),降低串擾<0.1dB/℃



Q3: 如何實現(xiàn)大規(guī)模光開關(guān)的測試量產(chǎn)?

A:科毅自主開發(fā)的并行測試系統(tǒng):

? 支持8片晶圓同時測試

? 每片晶圓測試時間<2小時

? 測試良率>95%



Q4: 如何解決多通道串擾問題?

A:科毅采用三維電磁仿真優(yōu)化電極布局,在64通道矩陣中實現(xiàn)串擾≤-55dB。具體措施包括:

? 波導(dǎo)間距從5μm增至8μm,降低模式耦合

? 引入接地屏蔽層(厚度200nm),抑制電磁干擾

? 優(yōu)化驅(qū)動信號時序,采用分時切換策略,降低同時切換通道數(shù)量

 

Q5: 大規(guī)模光開關(guān)的散熱解決方案?

A:開發(fā)微流道冷卻系統(tǒng),在10×10mm2芯片上實現(xiàn):

? 散熱功率密度50W/cm2,滿足256通道芯片需求

? 芯片溫度均勻性±1℃,避免局部過熱導(dǎo)致的性能漂移

? 流道壓降<0.5bar,兼容常規(guī)水冷系統(tǒng)


選擇合適的光開關(guān)是一項需要綜合考量技術(shù)、性能、成本和供應(yīng)商實力的工作。希望本指南能為您提供清晰的思路。我們建議您在明確自身需求后,詳細對比關(guān)鍵參數(shù),并優(yōu)先選擇像科毅光通信這樣技術(shù)扎實、質(zhì)量可靠、服務(wù)專業(yè)的合作伙伴。

 

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